[1]
A. M. . Amaro, J. S. . Cirne, N. F. Rilo, M. . Vaz, y J. Monteiro, «Utilizaçao de técnicas de interferometria holográfica na detecçao de defeitos em compósitos laminados», RIBIM, vol. 10, n.º 1, pp. 83–91, ene. 2006.